半导体wafer晶圆颗粒缺陷表面检查灯 黄绿光表面检查灯 白光表面检查灯
半导体wafer晶圆颗粒缺陷表面检查灯是一款黄绿光表面检查灯（或者是白光），人眼敏感的黄绿光照在工件表面折射出光路，使得操作员肉眼很容易识别出半导体（晶圆/晶片）表面的缺陷，提高工作效率。可精确检查到1um以下的瑕疵缺陷，拥有有绿光和黄光2种颜色的复合光，光源强度可达40万LX，比传统的检查灯，效用增强10倍！除了可以应用在半导体晶圆晶片表面瑕疵检查，还可以检查例如：液晶玻璃、液晶屏幕、汽车玻璃、基材……表面的灰尘、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵。
