晶圆颗粒缺陷检查灯 高照度晶圆LED检查灯 晶圆颗粒缺陷检查灯 Wafer表面检查灯光源 白光晶圆检查灯 黄绿光晶圆检查灯

wafer晶圆颗粒缺陷检查灯是一款黄绿光表面检查灯（或者是白光），检测灯的原理利用适合的LED灯源，通过光学镜片折射出特殊波长的光源，照在工件表面折射出光路，使得操作员肉眼可识别出工件表面的灰尘、刮痕、毛刺、凹凸、油墨等瑕疵点，取代传统的照明设备和光学系统机台，直接通过照明光线和肉眼，观测出一般玻璃表面、部件表面的瑕疵，极大的节省了一般工厂的采购成本。晶圆颗粒缺陷检查灯 采用人眼最敏感510-590NM之间波长光，来做最简单与明确的判别，可精确检查到1um以下的刮痕或微粒子，并且具有绿光和黄光2种颜色的复合光，几乎可检测出所有尘埃，大大降低产品不良率。使用寿命为2万小时以上。光源强度可达30万LX，最小可以检测1μ的表面脏污，比传统的检查灯